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觀察大理石平臺(tái)表面粗糙度的幾種方法

更新時(shí)間:24/06/07 16:11:06     來源:關(guān)閉分    享:

     大理石平臺(tái)的表面粗糙度需要測(cè)試,大理石平臺(tái)用天然的石質(zhì)材料制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具,對(duì)儀器儀表、精密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn),都是理想的基準(zhǔn)面。特別是用于高精度的測(cè)量方面,由于它得天獨(dú)厚的特性,而使鑄鐵平板相形見絀。下面小編介紹觀察大理石平臺(tái)表面粗糙度的幾種方法。
  1、干涉顯微鏡測(cè)量法
  干涉顯微鏡利用光波干涉原理來測(cè)量光波波長(zhǎng)處的表面粗糙度。 被測(cè)表面粗糙度呈現(xiàn)峰谷形干涉條紋。 通過目鏡觀測(cè)和千分尺測(cè)量干涉條紋的數(shù)目和峰谷的曲率程度,計(jì)算出表面粗糙度的 ra 值。 干涉條紋的峰值和谷值也可以通過攝影來評(píng)價(jià)。 將干涉法應(yīng)用于機(jī)械加工的表面粗糙度測(cè)量。 適合在計(jì)量室使用。
  2、光切顯微鏡測(cè)量法
  光學(xué)切割顯微鏡(雙管顯微鏡)是利用光切割原理測(cè)量表面粗糙度的一種方法。從目鏡上觀察表面粗糙度輪廓圖像,用千分尺測(cè)量Rz和Ry值。輪廓圖像也可以通過測(cè)量來繪制,并且可以再次計(jì)算Ra值,這是不常用的,因?yàn)樗姆椒ê軓?fù)雜。可對(duì)粗糙度剖面圖像進(jìn)行拍照和評(píng)估光切顯微鏡適用于計(jì)量室
  3、電動(dòng)輪廓儀比較法
  電線觸針式儀器。當(dāng)觸針在測(cè)試表面垂直于所述部分區(qū)域的紋理方向測(cè)量?jī)x,測(cè)得的水平移動(dòng),直接從測(cè)得Ra值的行程指示儀表的。該Ra值被測(cè)量常用的方法。儀器或記錄裝置,示出了粗糙度輪廓曲線的放大圖,Ra和Rz的值重新計(jì)算。適用在計(jì)量腔室這樣的儀器。但是,便攜式電動(dòng)分析器可以在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。
  4、顯微鏡比較法
  待測(cè)表面與表面粗糙度對(duì)比試塊緊密結(jié)合,用對(duì)比顯微鏡觀察二者放大后的表面,以試塊工作表面的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn),觀察比較待測(cè)表面是否達(dá)到表面粗糙度以確定待測(cè)表面粗糙度是否符合要求。該方法不能測(cè)量粗糙度參數(shù)值。
  5、樣塊比較法
  以表面粗糙度試樣工作面的粗糙度作為標(biāo)準(zhǔn),將被測(cè)試表面與目測(cè)法或觸覺法進(jìn)行比較,以確定被測(cè)試表面是否符合規(guī)定,試樣和表面的材料和處理方法應(yīng)盡可能相同,試樣比較法簡(jiǎn)單可行,適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。 在大理石平臺(tái)的實(shí)際測(cè)試過程中,常用的方法是塊對(duì)比法。

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